[发明专利]电子部件试验装置无效
| 申请号： | 200480012843.8 | 申请日： | 2004-05-28 |
| 公开（公告）号： | CN1788206A | 公开（公告）日： | 2006-06-14 |
| 发明（设计）人： | 山下和之;伊藤明彦 | 申请（专利权）人： | 株式会社爱德万测试 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人： | 何腾云 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 一种电子部件试验装置，将IC芯片(IC)的输入输出端子(HB)推压到测试头(150)的接触部(151)进行试验；其中：具有测试板(110)，该测试板(110)在测试板主体部(111)可摇动地对保持部(113)进行保持，该保持部(113)将IC芯片(IC)的未导出输入输出端子(HB)的背面保持在比该背面大、实质上平滑的保持面(114)，测试时，保持部(113)的侧面(113b)由设于接触部(151)周围的导向面(153)引导，同时，由保持部(113)保持着的状态的IC芯片(IC)被推压到接触部的接触销。 | ||
| 搜索关键词： | 电子 部件 试验装置 | ||
【主权项】：
1.一种电子部件试验装置，将被试验电子部件的输入输出端子推压到测试头的接触部进行试验；其特征在于：至少具有测试板和移动单元；该测试板具有实质上平滑的保持面，该保持面用于保持上述被试验电子部件；该移动单元使上述被试验电子部件移动到上述测试板的保持面，相对地对应于上述接触部的排列载置上述被试验电子部件；在与上述接触部的排列对应的状态下，上述测试板的保持面保持上述被试验电子部件，进行上述被试验电子部件的试验。
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