[发明专利]用于输入－输出速度测量的测试电路

摘要

测试电路(2)通过在输出焊片(31)附近的信号通路内设置一D型触发电路(33)，来记录测试触发电路的到达，有助于精密地测量输入引脚(29)通过集成电路到输出引脚(31)的信号传播速度。该触发电路以各种钟频计时(CLK；34、35)。在高频，在输入焊片(29)施加的与时钟渡越一致的测试信号渡越。在下次时钟渡越被记录的时间内未到达输出焊片(Q；36、37＝低)。在较低的钟频，测试渡越具有通过集成电路传播的时间，因而将由触发电路记录(Q；36、37＝低)。在较低的钟频，测试渡越具有通过集成电路传播的时间，因而将被触发电路记录(Q；36、37＝高)。不断降低钟频并将测试信号通过该电路发送，只记录该测试信号渡越的时钟周期的一半(1/2×T_CLK)对应于被测量的输入—输出延迟时间(Tdelay)。

主权项

1.集成电路内利用外部测试设备探针促进精密测量集成电路输入-输出信号速度的测试电路，其特征在于，所述测试电路包括：输入和输出焊片；所述输入与输出焊片之间的信号通路，其中由测试设备加到所述输入焊片的信号渡越沿这种具有某一要测量的延迟时间的信号通路传播到所述输出焊片；和D型触发电路，其数据输入端接输出焊片，时钟输入端接测试时钟焊片，而数据输出端接第二输出焊片，所述D型触发电路位于所述集成电路内，靠近所述输出焊片与测试时钟焊片；其中测试设备用于测量所述输入-输出信号速度的探针至少接触于所述输入焊片、所述测试时钟焊片和所述第二输出焊片，加在所述输入焊片的信号渡越由所述D型触发电路记录，并在加到所述测试时钟焊片的变频测试时钟信号具有与所述延伸时间一致的半周期时出现在所述第二输出焊片上。