[发明专利]使用扫描干涉测量形成复杂表面结构的轮廓有效
| 申请号： | 200480012299.7 | 申请日： | 2004-03-08 |
| 公开（公告）号： | CN1784587A | 公开（公告）日： | 2006-06-07 |
| 发明（设计）人： | 彼得·J·德格鲁特;罗伯特·斯托纳;泽维尔·C·德利加 | 申请（专利权）人： | 齐戈股份有限公司 |
| 主分类号： | G01B9/02 | 分类号： | G01B9/02;G01B11/06;G01B11/24;G01B11/30 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人： | 黄小临;王志森 |
| 地址： | 美国康*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 一种方法，其包括：将可从用于测试对象的第一表面位置的扫描干涉测量信号导出的信息和与测试对象的多个模型相对应的信息相比较，其中，通过一系列用于测试对象的特性而将所述多个模型参数化。正被比较的可导出的信息可与用于测试对象的第一表面位置的扫描干涉测量信号的形状相关。 | ||
| 搜索关键词： | 使用 扫描 干涉 测量 形成 复杂 表面 结构 轮廓 | ||
【主权项】：
1、一种方法，其包括：将可从用于测试对象的第一表面位置的扫描干涉测量信号导出的信息和与测试对象的多个模型相对应的信息相比较，其中，通过一系列用于测试对象的特性而将所述多个模型参数化，其中，正被比较的可导出的信息与用于测试对象的第一表面位置的扫描干涉测量信号的形状相关。
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