[发明专利]用于量化平面对象反面上的印刷图像的可视透背的方法和设备有效

专利信息
申请号: 200480009467.7 申请日: 2004-04-07
公开(公告)号: CN1771504A 公开(公告)日: 2006-05-10
发明(设计)人: R·W·布劳恩;R·V·小坎宁;M·H·埃文斯;R·W·约翰逊;B·拉宾;D·R·斯蒂尔维尔 申请(专利权)人: 纳幕尔杜邦公司
主分类号: G06K9/00 分类号: G06K9/00;G01N21/00;G01N21/84
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 代理人: 杨凯;王忠忠
地址: 美国特*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 一种量化诸如纸张的平面对象反面上的印刷图像的可见透背的图像分析方法和具有成像组件(12)和处理器(14)的设备(10)。使用白基准对象设置照度级。白基准图像存储在计算机存储器中。反面有印刷图像的平面对象的图像存储在计算机存储器中。逐个像素地计算两个图像的比值并计算比值的平均值以表征可视透背。测量基本上独立于照度级和图像颜色深浅。
搜索关键词: 用于 量化 平面 对象 面上 印刷 图像 可视 方法 设备
【主权项】:
1.一种用于当照射和观察片的第二面时、测量所述片的第一面上的印刷图像的可见程度的方法,所述方法包括:a)通过以初始照度级照射不包含图像的基准对象来创建所述基准对象的校准图像;b)确定所述基准对象的平均灰度级,并调整所述照度级以实现预定的平均灰度级;c)以与用于创建所述校准图像的照度级相同的照度级照射所述片并创建所述片的图像;d)测量所述片的所述图像的像素亮度与所述校准图像的对应像素亮度的比值;以及e)计算所述像素亮度的比值的平均值。
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