[发明专利]对密集的已调制信号进行解调的电路、装置和方法有效

专利信息
申请号: 200480006478.X 申请日: 2004-03-03
公开(公告)号: CN1759530A 公开(公告)日: 2006-04-12
发明(设计)人: 斯特凡·贝尔;皮特·塞茨 申请(专利权)人: CSEM瑞士电子和微技术中心股份有限公司
主分类号: H03D3/00 分类号: H03D3/00
代理公司: 隆天国际知识产权代理有限公司 代理人: 郑小军;张浴月
地址: 瑞士纳*** 国省代码: 瑞士;CH
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摘要: 可以用多个像素1来检测其调制幅度和时间相位依赖于局部位置的已调制光辐射场(I)。每个像素1包括:将进来的光(I)转换为成比例的电信号的转换级(T)、采样级(S)、两个减法级和两个加法级(SUB1,SUM1;SUB2,SUM2),以及输出级。每个像素可以被分别寻址。以四倍于波场的调制频率的频率对光辐射场(I)进行局部感测和采样。减法/加法级(SUB1,SUM1;SUB2,SUM2)在几个平均周期期间累加了在每个调制周期内相距二分之一个周期的两个采样值的差值;该两级彼此相对时移四分之一个周期。所得到的两个输出信号用于确定局部包络幅度和时间相位。这些像素1可以用电能消耗很少和面积很小的电路来实现,能够以线性或二维阵列传感器的方式实现大量像素。
搜索关键词: 密集 调制 信号 进行 解调 电路 装置 方法
【主权项】:
1、一种用于检测已由调制频率调制的信号(I)的电路(1),调制周期被定义为该调制频率的倒数,包括:转换装置(T),用于将已调制信号(I)转换为电信号,采样装置(S),使用等于该调制频率四倍或多倍的采样频率对所述电信号进行采样,第一减法装置(SUB1),用于计算相距二分之一个调制周期的两个第一采样值之间的第一差值,以及第二减法装置(SUB2),用于计算相距二分之一个调制周期的两个第二采样值之间的第二差值,所述第二采样值相对所述第一采样值的时移为调制周期的规定分数,优选该分数为四分之一,其特征在于,第一加法装置(SUM1),用于计算由所述第一减法装置(SUB1)计算的多个连续的第一差值的第一总和,以及第二加法装置(SUM2),用于计算由所述第二减法装置(SUB2)计算的多个连续的第二差值的第二总和。
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