[发明专利]存储单元、使用该存储单元的存储器、存储单元制造方法和存储器记录/读取方法无效

专利信息
申请号: 200480006233.7 申请日: 2004-03-31
公开(公告)号: CN1759483A 公开(公告)日: 2006-04-12
发明(设计)人: 村上元良;后藤泰宏 申请(专利权)人: 松下电器产业株式会社
主分类号: H01L27/105 分类号: H01L27/105;H01L27/22
代理公司: 永新专利商标代理有限公司 代理人: 王英
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明提供一种存储单元及其制造方法,该存储单元具有完全不同于常规存储器的存储单元的结构,并具有各种优异的特性。通过使用该存储单元还提供一种具有各种优异特性的存储器。此外,提供一种用于在该存储器中记录信息和从该存储器读取信息的方法。该存储单元包括用于保存信息的存储介质、用于在存储介质中记录信息的控制部件、以及用于从存储介质读取信息的检测元件,其中检测元件独立于存储介质而设置。更具体地说,例如,存储介质是磁性器件,控制部件包括用于给磁性器件施加磁场以便改变磁性器件的磁化状态的第一磁场产生部件,并且检测元件设置在磁性器件附近,并具有磁电转换部件,该磁电转换部件的电特性根据磁性器件的磁化状态而变化。
搜索关键词: 存储 单元 使用 存储器 制造 方法 记录 读取
【主权项】:
1、一种存储单元,包括:用于保存信息的存储介质,用于在该存储介质中记录信息的控制部件,和用于从该存储介质读取信息的检测元件,其中该检测元件独立于该存储介质而设置。
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