[发明专利]确定在光学介质上写入/擦除信息的功率参数的设备和方法无效

专利信息
申请号: 200480005866.6 申请日: 2004-02-20
公开(公告)号: CN1757063A 公开(公告)日: 2006-04-05
发明(设计)人: A·J·J·范登霍根;C·G·徐 申请(专利权)人: 皇家飞利浦电子股份有限公司
主分类号: G11B7/0045 分类号: G11B7/0045;G11B7/006;G11B7/0055
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 代理人: 程天正;张志醒
地址: 荷兰艾*** 国省代码: 荷兰;NL
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摘要: 发明涉及一种确定用于借助辐射束在光学记录介质上写入/擦除信息的写入/擦除功率参数(Ptarget)的值的设备和方法。所述方法是基于通过一组参数a-b-c的函数的曲线拟合作出的,所述函数在辐射束的功率电平(P)和已记录信号的调制因数(M)的乘积与功率电平(P)之间建立了一种关系。因此所述参数组用于对在伽马曲线和功率电平(P)之间建立一种关系的等式进行求解,所述等式的解被看作是写入/擦除功率参数(Ptarget)的最佳值。因此能够从写入/擦除功率参数(Ptarget)获得最佳功率电平(Popt)。应用:光学记录介质的写入/擦除。
搜索关键词: 确定 光学 介质 写入 擦除 信息 功率 参数 设备 方法
【主权项】:
1.一种确定在光学记录设备中使用的用于借助辐射束(105)在光学记录介质(101)上写入/擦除信息的写入/擦除功率参数(Ptarget)的值的方法,所述方法包括下列递归步骤:-第一步(401),在记录介质上写入一系列的测试图案,每个测试图案是用不同功率电平(P)值的辐射束写入的,所述功率电平(P)具有在最小功率电平(Pmin)和最大功率电平(Pmax)之间变化的变化范围,-第二步(402),读取记录介质上的测试图案以获得读取信号部分,-第三步(403),从每个读取信号部分获得读取参数(M)的值,用于确定一组包含最小读取参数(Mmin)的读取参数,-第四步(404),用于对定义了读取参数(M)和功率电平(P)的组合与功率电平(P)之间的关系的函数(f)进行曲线拟合,所述函数由一组参数(a,b,c)来表征,-第五步(405),根据所述参数组(a,b,c)检查将由最大功率电平(Pmax)、最小功率电平(Pmin)和最小读取参数(Mmin)满足的条件,-第六步(406),如果所述条件不满足,则修改功率电平(P)的变化范围,然后返回至第一步(401),-第七步(407),如果满足所述条件,则从一个具有功率电平(P)作为变量的等式提取所述写入/擦除功率参数(Ptarget)的值。
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