[发明专利]光检测装置无效
| 申请号: | 200480002735.2 | 申请日: | 2004-01-22 |
| 公开(公告)号: | CN1742192A | 公开(公告)日: | 2006-03-01 |
| 发明(设计)人: | 杉山行信;水野诚一郎 | 申请(专利权)人: | 浜松光子学株式会社 |
| 主分类号: | G01B11/00 | 分类号: | G01B11/00 |
| 代理公司: | 北京纪凯知识产权代理有限公司 | 代理人: | 龙淳 |
| 地址: | 日本国*** | 国省代码: | 日本;JP |
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| 摘要: | 本发明的目的在于使光入射的二次元位置的检测处理实现高速化以及结构的简化。在二次元配列有像素(11MN)的光感应区域(10)中,将根据分别入射的光的强度输出相应电流的多个光感应部分(12MN、13MN)邻接设置在同一面内,构成一个像素(11MN),在二次元配列的第一方向上使各像素(11MN)的一方的光感应部分(12MN)彼此电连接,在第二方向上使各像素(11MN)的另一方的光感应部分(13MN)彼此电连接,分别构成光感应部分群。具有根据由光源照射光的第一期间和没有照射光的第二期间的光感应部分群的输出的差分来检测亮度分布的信号处理电路。 | ||
| 搜索关键词: | 检测 装置 | ||
【主权项】:
1.一种光检测装置,其连同向对象物照射光的光源一起被使用,且具有像素成二次元配列的光感应区域,其特征在于:通过在同一面内邻接地配设将各个入射光的强度所对应的电流予以输出的多个光感应部分而形成一个像素;横跨所述二次元配列中的配列在第一方向的多个像素,构成该各像素的多个光感应部分中的一方的光感应部分彼此电连接;横跨所述二次元配列中的配列在第二方向的多个像素,构成该各像素的多个光感应部分中的另一方的光感应部分彼此电连接,其中,包括:第一信号处理电路,根据经过由所述光源向所述对象物照射所述光的第一期间,配列在所述第一方向的所述多个像素间电连接的一方的光感应部分群所蓄积的电荷的对应输出,与经过未由所述光源向所述对象物照射所述光的第二期间,由所述一方的光感应部分群所蓄积的电荷的对应输出间的差分,来检测在该第二方向的亮度分布;第二信号处理电路,根据经过所述第一期间,由配列在该第二方向的该多个像素间电连接的另一方的光感应部分群所蓄积的电荷的输出,与经过所述第二期间,由所述另一方的光感应部分群所蓄积的电荷的对应输出间的差分,来检测在所述第一方向的亮度分布。
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