[发明专利]双向电源开关无效
申请号: | 200480001444.1 | 申请日: | 2004-02-04 |
公开(公告)号: | CN1735971A | 公开(公告)日: | 2006-02-15 |
发明(设计)人: | 沈征;戴维·诺博鲁·奥卡达 | 申请(专利权)人: | 长城半导体公司 |
主分类号: | H01L29/76 | 分类号: | H01L29/76 |
代理公司: | 永新专利商标代理有限公司 | 代理人: | 王英 |
地址: | 美国亚*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | 由两个或更多的MOS管组成的半导体器件形成一个双向电源开关。该双向开关的一个实例由以下几部分组成:(a)一个具有上表面和下表面的半导体衬底;(b)在半导体衬底内紧邻上表面处具有第一种传导性的第一区;(c)在第一区内具有第二种传导性的第一和第二源区;(d)在第一区内,第一和第二源区之间,紧邻上表面处形成的具有第二种传导性的漏区;(e)连接第一源区的第一源镀层;(f)连接第二源区的第二源镀层;(g)高于上表面处,放置在第一和第二源之间的第一栅。此处,第一栅覆盖了第一源区和漏区的一部分;(h)高于上表面处,放置在第二源和第一栅之间的第二栅。此处,第二栅覆盖了第二源区和漏区的一部分。 | ||
搜索关键词: | 双向 电源开关 | ||
【主权项】:
1、一种半导体器件,其包括:a、一个半导体衬底,具有上表面和下表面;b、具有第一种传导性的第一区,其在半导体衬底内紧邻所述的上表面处;c、具有第二种传导性的第一和第二源区,其在所述的第一区内;d、具有第二种传导性的漏区,在所述的第一区内、所述的第一和所述的第二源区之间、紧邻所述的上表面处形成;e、镀在以及连接所述第一源区的第一源;f、镀在以及连接所述第二源区的第二源;g、第一栅,位于所述上表面上方,在所述第一和所述第二源之间,其中,第一栅层迭在所述第一源区和所述漏区的一部分;h、第二栅,位于所述上表面上方,在所述第二源和所述第一栅之间。其中,第二栅层迭在所述第二源区和所述漏区的一部分。
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