[实用新型]阵列基板检测装置无效
| 申请号： | 200420103601.7 | 申请日： | 2004-12-28 |
| 公开（公告）号： | CN2800286Y | 公开（公告）日： | 2006-07-26 |
| 发明（设计）人： | 林至成;吴泽 | 申请（专利权）人： | 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司;群创光电股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/02 | 分类号： | G01R31/02;G01R31/00 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 518109广东省深圳市*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种阵列基板检测装置。该阵列基板检测装置包括一光源、一可控制光通过与否的光电元件、一位于该光电元件一侧的光侦测器和一与该光侦测器连接的计算器系统，待测阵列基板设置在光电元件与光源之间。采用该阵列基板检测装置可提高检测效率。 | ||
| 搜索关键词： | 阵列 检测 装置 | ||
【主权项】：
1.一种阵列基板检测装置，其包括一光源、一可控制光通过与否的光电元件和一位于该光电元件一侧的光侦测器，其特征是：该阵列基板检测装置还包括一与该光侦测器连接的计算器系统，待测阵列基板设置在该光电元件与该光源之间。
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