[实用新型]绝缘子污秽程度判定仪的高速采样装置无效

专利信息
申请号: 200420080812.3 申请日: 2004-11-01
公开(公告)号: CN2736781Y 公开(公告)日: 2005-10-26
发明(设计)人: 戴克铭;袁力超;金心明;施海宁;姚建林 申请(专利权)人: 江苏省电力公司苏州供电公司;苏州热工研究院有限公司
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00;G01R19/00
代理公司: 苏州创元专利商标事务所有限公司 代理人: 孙仿卫
地址: 215011江*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 一种绝缘子污秽程度判定仪的高速采样装置,包括由一个模/数转换器和一个存储器构成的多组采样单元、分时采样逻辑、分时地址逻辑、中央处理器,该中央处理器的数据总线接各存储器的数据输出端,所述的中央处理器的控制总路还分别接在分时采样逻辑和分时地址逻辑的控制端。采样过程完全自动,中央处理器只需要发一个初始触发电平,而不必对各芯片的时序进行具体控制,从而避免了对中央处理器速度的要求。
搜索关键词: 绝缘子 污秽 程度 判定 高速 采样 装置
【主权项】:
1、一种绝缘子污秽程度判定仪的高速采样装置,包括由一个模/数转换器和一个存储器构成一组采样单元,共有至少两组采样单元,其中每组采样单元的模/数转换器的数据输出端接存储器的数据输入端;用于在采样过程中自动产生分时选通信号的分时采样逻辑[2],其输出端分别接各组采样单元中的模/数转换器的选通控制端和存储器的选通控制端;用于在采样过程中自动产生逐步递增或递减的地址信号的分时地址逻辑[3],其输出端分别接各存储器的地址线;中央处理器[1],该中央处理器[1]的数据总线接各存储器的数据输出端,所述的中央处理器[1]的控制总路还分别接在分时采样逻辑[2]和分时地址逻辑[3]的控制端。
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