[实用新型]集成电路晶片的构装无效

专利信息
申请号: 200420065567.9 申请日: 2004-06-07
公开(公告)号: CN2708500Y 公开(公告)日: 2005-07-06
发明(设计)人: 吴澄郊 申请(专利权)人: 台湾沛晶股份有限公司
主分类号: H01L23/02 分类号: H01L23/02
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 代理人: 周长兴
地址: 台湾省*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 一种集成电路晶片的构装,包含有:一承载体,具有一顶面、一底面及一容室,其中:该容室具有一开口,该顶面于该开口的周缘,分设有多数焊接区及多数非焊接区,该等焊接区与该等非焊接区呈相邻排列,各焊接区设有一焊垫;一晶片,固设于该容室中,该晶片具有多数焊垫;多数焊线分别电性连接该承载体上焊接区的焊垫及该晶片的焊垫;一遮盖,用以封闭该容室的开口;一支撑体,夹置于该承载体顶面上若干非焊接区及该遮盖之间;一黏著物,分布于该遮盖及该承载体的衔接处,用以使该遮盖固接于该承载体上。
搜索关键词: 集成电路 晶片
【主权项】:
1.一种集成电路晶片的构装,其特征在于,包含有:一承载体,具有一顶面、一底面及一容室,该容室具有一开口,该顶面于该开口的周缘,分设有多数焊接区及多数非焊接区,该等焊接区与该等非焊接区呈相邻排列;一晶片,固设于该容室中,该晶片具有多数的焊垫;多数焊线分别电性连接该承载体上的焊接区及该晶片的焊垫;一遮盖,封闭该容室开口;一支撑体,夹置于该承载体顶面上若干非焊接区及该遮盖之间。一黏著物,分布于该遮盖及该承载体衔接处。
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