[实用新型]千分尺量面平行度检查仪无效

专利信息
申请号: 200420054046.3 申请日: 2004-12-23
公开(公告)号: CN2767952Y 公开(公告)日: 2006-03-29
发明(设计)人: 李文义;崔洪烈;闫爽;刘世滨;李淑英 申请(专利权)人: 哈尔滨量具刃具集团有限责任公司
主分类号: G01B3/18 分类号: G01B3/18
代理公司: 哈尔滨东方专利事务所 代理人: 陈晓光
地址: 150040黑龙*** 国省代码: 黑龙江;23
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摘要: 千分尺量面平行度检查仪。千分尺量面平行度要求非常高,检测十分不便。对量程较小的千分尺,目前是使用平行平晶检测,对于大量程的千分尺,由于两测量面距离较大,无法用平晶检查,必需制作相当复杂的检具,用测微表进行检查,测量效率低,适用范围小,检查结果的可信度也不高,限制了大规格千分尺质量的进一步提高。千分尺量面平行度检查仪,其组成包括:平行平板6和架体22,所述的架体22上具有导轨2,所述的导轨2上装有左V型定位块3和右V型定位块5,所述的左V型定位块3和右V型定位块5上装有被测千分尺4,所述的架体22上装有X轴调整手轮1和Y轴调整手轮7。该产品用于检测千分尺。
搜索关键词: 千分尺 平行 检查
【主权项】:
1.一种千分尺量面平行度检查仪,其组成包括:平行平板和架体,其特征是:所述的架体上具有导轨,所述的导轨上装有左V型定位块和右V型定位块,所述的左V型定位块和右V型定位块上装有被测千分尺,所述的架体上装有X轴调整手轮和Y轴调整手轮。
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