[实用新型]半导体激光器特性参数测试装置

摘要

本实用新型提供一种半导体激光器特性参数测试装置，包括测试仪，其特征在于：增设恒流源电路，包括集成运放U2～3、MOS管TQ3～4和继电器J1～3，其中继电器J1～3接测试仪的数字控制信号输出端，集成运放U2的反向输入端对应经电阻R1接地、经电阻R2接其输出端及集成运放U3A的正向输入端，集成运放U2的正向输入端对应经电阻R3接测试仪的恒流信号设定输出端，输入的信号经集成运放U2～3放大、并控制MOS管TQ3～4的G极与S极之间电压达到控制恒流源输出的电流，此电流经过继电器J1输入到被测温敏电阻W上，通过温敏电阻W的阻值即可得到现在的温度。这样流过温敏电阻W的电流可调，而不受电源的限制，不管温敏电阻W值怎样变化其取样电压值都是成比例变化的，灵敏度大大提高。

主权项

1、一种半导体激光器特性参数测试装置，包括测试仪(1)，其特征在于：增设恒流源电路，包括集成运放U2～3、MOS管TQ3～4和继电器J1～3，其中继电器J1～3的一端接测试仪(1)的数字控制信号输出端，其另一端对应经电阻R8～10接电源，集成运放U2的反向输入端对应经电阻R1接地、经电阻R2接其输出端及集成运放U3A的正向输入端，集成运放U2的正向输入端对应经电阻R3接测试仪(1)的恒流信号设定输出端、依次经电阻R4和电阻R6接MOS管TQ3的D极及集成运放U3A的反向输入端，集成运放U3A的输出端接MOS管TQ3的G极，MOS管TQ3的S极分别接集成运放U3B的正向输入端、经电阻R5接电源，集成运放U3B的反向输入端接MOS管TQ4的S极、经电阻R7接电源，集成运放U3B的输出端接MOS管TQ4的G极，MOS管TQ4的D极分别经继电器J2的常闭触点J21及电阻R11接地、经继电器J1的常开触点J11接待测的温敏电阻W，温敏电阻W的另一端接电阻R4与电阻R6连接端、并经继电器J3的常闭触点J31接地。