[实用新型]半导体激光器测试装置无效
| 申请号： | 200420052386.2 | 申请日： | 2004-07-19 |
| 公开（公告）号： | CN2720456Y | 公开（公告）日： | 2005-08-24 |
| 发明（设计）人： | 赵成斌;许文海;吴荣之;马安生 | 申请（专利权）人： | 山东博特光电技术有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26;H01S3/0941 |
| 代理公司： | 淄博科信专利商标代理有限公司 | 代理人： | 吴红 |
| 地址： | 255086山东省淄*** | 国省代码： | 山东;37 |
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| 摘要： | 本实用新型提供一种半导体激光器测试装置，包括测试仪，其特征在于：增设极性保护电路，包括继电器J1～2和二极管D1～4，其中继电器J1～2一端接测试仪的数字控制信号输出端，另一端接+12V电源，且继电器J1的常闭触点J11串接在二极管D1～2的阳极与激光器之间，其常开触点J12的一端接二极管D1～2的阳极，另一端空接，继电器J2的常闭触点J21串接在二极管D1～2的阳极与地之间，其常开触点J22的一端接二极管D1～2的阳极，另一端空接，二极管D1的阴极接测试仪的驱动信号输出端，二极管D2的阴极接地。本实用新型在原有测试仪的基础上增设了极性保护电路，当出现极性错误时，此保护电路可以起到极性保护作用，接地为0，停止驱动，保护被测元件不被损坏，工作性能优良。 | ||
| 搜索关键词： | 半导体激光器 测试 装置 | ||
【主权项】：
1、一种半导体激光器测试装置，包括测试仪(1)，其特征在于：增设极性保护电路，包括继电器J1～2和二极管D1～4，其中继电器J1～2一端接测试仪(1)的数字控制信号输出端，另一端接+12V电源，且继电器J1的常闭触点J11串接在二极管D1～2的阳极与待测激光器(2)之间，其常开触点J12的一端接二极管D1～2的阳极，另一端空接，继电器J2的常闭触点J21串接在二极管D1～2的阳极与地之间，其常开触点J22的一端接二极管D1～2的阳极，另一端空接，二极管D1的阴极接测试仪(1)的驱动信号输出端，二极管D2的阴极接地。
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