[发明专利]用于半导体封装的引线框和制造该半导体封装的方法无效
申请号: | 200410097880.5 | 申请日: | 2004-11-30 |
公开(公告)号: | CN1661786A | 公开(公告)日: | 2005-08-31 |
发明(设计)人: | 金正日;赵世勋 | 申请(专利权)人: | 三星TECHWIN株式会社 |
主分类号: | H01L21/48 | 分类号: | H01L21/48;H01L21/60;H05K3/00;H01L23/495 |
代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人: | 秦晨 |
地址: | 韩国庆*** | 国省代码: | 韩国;KR |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明提供了一种用引线框制造半导体封装的方法和由它提供的半导体封装。该方法包括提供引线框,其具有多个用于模制多个半导体封装的模制区域,和将条带附着在引线框的至少一个表面从而防止熔化的模制材料与引线框的表面接触。该条带包括多个相应于每个模制区域边界的空白区。当在引线框上层压条带时,该方法分散由于热轧辊导致的条带张力和膨胀应力,借此防止板条弯曲。 | ||
搜索关键词: | 用于 半导体 封装 引线 制造 方法 | ||
【主权项】:
1.一种用引线框制造半导体封装的方法,包括:提供引线框,其具有多个用于在上面安装多个半导体封装的区域;和将条带附着在引线框的表面,使其基本上覆盖引线框的整个表面,但不包括半导体封装安装区的边界区,从而防止模制材料在随后半导体封装模制处理期间附着于引线框的被覆盖表面。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于三星TECHWIN株式会社,未经三星TECHWIN株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200410097880.5/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:月经用内裤
- 下一篇:估计多个信道的设备和方法
- 同类专利
- 专利分类
H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造