[发明专利]在光信息记录介质上记录信息的方法和装置以及光记录介质无效
| 申请号: | 200410096374.4 | 申请日: | 2004-11-26 |
| 公开(公告)号: | CN1627376A | 公开(公告)日: | 2005-06-15 |
| 发明(设计)人: | 秋山哲也;宫川直康 | 申请(专利权)人: | 松下电器产业株式会社 |
| 主分类号: | G11B7/00 | 分类号: | G11B7/00;G11B7/004 |
| 代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人: | 王玮 |
| 地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
| 摘要: | 一种在光信息记录介质上记录信息的方法,所述介质具有通过从一侧照射激光束来记录、重现或擦除数据的多个记录层,该方法包括:临时脉冲条件确定步骤;测试区域反射光测量步骤;最终脉冲条件确定步骤;和记录执行步骤。临时脉冲条件确定步骤包括,在测试记录层上执行测试记录,并且确定包括激光束强度的临时脉冲条件,其中所述测试记录层是多个记录层的至少一个记录层。测试区域反射光测量步骤包括,测量测试区域反射光能级,该能级是用于测试记录的一个区域中激光束的反射光能级。最终脉冲条件确定步骤包括,根据被测量的测试区域反射光能级校正临时脉冲条件,以便确定最终脉冲条件。记录执行步骤包括利用最终脉冲条件记录数据。 | ||
| 搜索关键词: | 信息 记录 介质 方法 装置 以及 | ||
【主权项】:
1.一种在具有多个通过从一侧照射激光束来记录、重现或擦除数据的记录层的光信息记录介质上记录信息的方法,该方法包括步骤:(a)通过在测试记录层上执行测试记录来确定包括激光束强度的临时脉冲条件,所述测试记录层是多个记录层中的至少一个记录层;(b)测量测试区域反射光能级,该能级是执行测试记录的一个区域中的激光束的反射光能级;(c)通过根据被测量的测试区域反射光能级校正临时脉冲条件,来确定最终脉冲条件;(d)利用最终脉冲条件记录数据。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于松下电器产业株式会社,未经松下电器产业株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200410096374.4/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:供热水器
- 下一篇:半导体器件及其制造方法
- 信息记录介质、信息记录方法、信息记录设备、信息再现方法和信息再现设备
- 信息记录装置、信息记录方法、信息记录介质、信息复制装置和信息复制方法
- 信息记录装置、信息再现装置、信息记录方法、信息再现方法、信息记录程序、信息再现程序、以及信息记录介质
- 信息记录装置、信息再现装置、信息记录方法、信息再现方法、信息记录程序、信息再现程序、以及信息记录介质
- 信息记录设备、信息重放设备、信息记录方法、信息重放方法、以及信息记录介质
- 信息存储介质、信息记录方法、信息重放方法、信息记录设备、以及信息重放设备
- 信息存储介质、信息记录方法、信息回放方法、信息记录设备和信息回放设备
- 信息记录介质、信息记录方法、信息记录装置、信息再现方法和信息再现装置
- 信息终端,信息终端的信息呈现方法和信息呈现程序
- 信息创建、信息发送方法及信息创建、信息发送装置





