[发明专利]半导体集成电路电源噪声的分析方法无效

专利信息
申请号: 200410095888.8 申请日: 2004-11-26
公开(公告)号: CN1622097A 公开(公告)日: 2005-06-01
发明(设计)人: 岛崎健二;佐藤和弘;一宫敬弘;平野将三;高桥正郎;辻川洋行;小岛清次郎 申请(专利权)人: 松下电器产业株式会社
主分类号: G06F17/50 分类号: G06F17/50
代理公司: 永新专利商标代理有限公司 代理人: 王英
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 根据半导体集成电路的设计数据,计算与电源布线相关的一个阻抗,并根据所计算出的阻抗,分析电源噪声的频率特性。在阻抗计算中,可以计算不同电位的电源,例如,主电源和地之间的阻抗。或者,可以计算在电位基本相同的电源,例如,主电源和N阱电源之间的阻抗。所计算出的阻抗包括电源布线之间的布线电容、衬底电阻、连接到所述电源布线的封装阻抗等。因此,能够提供在设计过程的较早阶段用较小的计算量进行地分析半导体集成电路的电源噪声的方法。
搜索关键词: 半导体 集成电路 电源 噪声 分析 方法
【主权项】:
1、一种分析半导体集成电路的电源噪声的方法,包括:根据半导体集成电路的设计数据计算与电源布线有关的阻抗的一个阻抗计算步骤;以及根据所计算出的阻抗分析所述电源噪声的频率特性的一个分析步骤。
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