[发明专利]高密度增强型只读式数字光盘无效

专利信息
申请号: 200410093315.1 申请日: 2004-12-21
公开(公告)号: CN1632870A 公开(公告)日: 2005-06-29
发明(设计)人: 魏劲松;干福熹;王阳;吴谊群 申请(专利权)人: 中国科学院上海光学精密机械研究所
主分类号: G11B7/24 分类号: G11B7/24
代理公司: 上海新天专利代理有限公司 代理人: 张泽纯
地址: 201800上*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 一种高密度增强型只读式数字光盘,其特征在于该光盘的结构依次是第一介电层、非线性掩膜层、第二介电层、金属氧化物信号增强层、第三介电层和盘基;所述的第一介电层、第二介电层和第三介电层均用氮化硅或ZnS-SiO2构成;所述的非线性掩膜层由Sb或Sb2Te3或AgInSbTe或Ge2Sb2Te5组成,所述的金属氧化物信号增强层由PtOx或AgOx组成,其中参数x的取值范围为0.1和2之间的任意值。盘基的最小坑点尺寸在200nm。本发明光盘结构,通过使用激光波长为650nm红光,数值孔径为0.60的光学头,实现坑点尺寸在200nm及其以上的读出。该只读式光盘的单面单层容量达到11.5GB,双面单层的容量达到23GB。
搜索关键词: 高密度 增强 只读 数字 光盘
【主权项】:
1、一种高密度增强型只读式数字光盘,其特征在于该光盘的结构依次是第一介电层(1)、非线性掩膜层(2)、第二介电层(3)、金属氧化物信号增强层(4)、第三介电层(5)和盘基(6);所述的第一介电层(1)、第二介电层(3)和第三介电层(5)均用氮化硅或ZnS-SiO2构成;所述的非线性掩膜层(2)由Sb或Sb2Te3或AgInSbTe或Ge2Sb2Te5组成,所述的金属氧化物信号增强层(4)由PtOx或AgOx组成,其中参数x的取值范围为0.1和2之间的任意值。
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