[发明专利]一种用于氮化镓外延生长的复合衬底无效

专利信息
申请号: 200410089448.1 申请日: 2004-12-13
公开(公告)号: CN1622285A 公开(公告)日: 2005-06-01
发明(设计)人: 陆卫;夏长生;李志锋;李宁;张波;王少伟;陈平平;陈效双;陈明法 申请(专利权)人: 中国科学院上海技术物理研究所;上海蓝宝光电材料有限公司
主分类号: H01L21/02 分类号: H01L21/02;H01L33/00;H01S5/00
代理公司: 上海新天专利代理有限公司 代理人: 张泽纯
地址: 20008*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明提供一种用于氮化镓外延生长的复合衬底,该衬底由单晶硅片、二氧化硅层和单晶硅薄膜单元构成的阵列层组成。单晶硅薄膜单元为正方形,边长由光刻技术所能达到的最小线宽决定,厚度为2~100nm,单元间隔小于或等于所要生长GaN外延层的厚度。本发明的优点是结构简单,成本低廉,便于大规模生产,可以生长面积大、厚度大、位错密度非常低的GaN外延层,可用于制造发光亮度高、电学性质优良的GaN基半导体发光二极管、半导体激光器及其它光电子器件。
搜索关键词: 一种 用于 氮化 外延 生长 复合 衬底
【主权项】:
1.一种用于氮化镓外延生长的复合衬底,包括:单晶硅片(1),在单晶硅片上有一层二氧化硅层(2),其特征在于:在二氧化硅层上有一单晶硅薄膜单元构成的阵列层,每一单元(3)为a×aμm的正方形,a值≤2μm,单晶硅薄膜厚度为2~100nm,薄膜单元的间隔小于或等于所要生长GaN外延层厚度。
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