[发明专利]工件曲面的测量方法及其程序和介质有效
| 申请号： | 200410083765.2 | 申请日： | 2004-10-19 |
| 公开（公告）号： | CN1609552A | 公开（公告）日： | 2005-04-27 |
| 发明（设计）人： | 野村阳一;道肋宏和 | 申请（专利权）人： | 株式会社三丰 |
| 主分类号： | G01B21/20 | 分类号： | G01B21/20 |
| 代理公司： | 北京市金杜律师事务所 | 代理人： | 季向冈 |
| 地址： | 日本神*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 由具有触针(111)的测头(110)测量曲面并得到工件(W)的理论式，同时，设定作为在作为前述工件(W)的测量对象的测量面上进行测量的范围的测量范围，根据在该测量范围上设定的代表点的坐标值和法线矢量决定前述触针(11)的轴线角度。 | ||
| 搜索关键词： | 工件 曲面 测量方法 及其 程序 介质 | ||
【主权项】：
1.一种工件曲面的测量方法，其特征在于，包括：获得由具有触针的测头测量曲面的工件的理论式的理论式输入步骤；设定作为在前述曲面上进行测量的范围的测量范围的测量范围设定步骤；在前述测量范围上设定代表点，根据前述理论式计算该代表点的坐标值和法线矢量的代表点计算步骤；根据前述法线矢量决定前述触针的轴线角度的轴线角度决定步骤；
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