[发明专利]集成电路中测试电容数组之装置及方法有效
| 申请号： | 200410078565.8 | 申请日： | 2004-09-15 |
| 公开（公告）号： | CN1598603A | 公开（公告）日： | 2005-03-23 |
| 发明（设计）人： | G·里普马;D·普哈姆－斯特纳;E·瓦格纳 | 申请（专利权）人： | 因芬尼昂技术股份公司 |
| 主分类号： | G01R27/26 | 分类号： | G01R27/26 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人： | 吴立明;张志醒 |
| 地址： | 联邦德*** | 国省代码： | 德国;DE |
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| 摘要： | 一种用于在一集成电路中、测试在一电容数组中之复数电容(C0，…，CN)的装置，其系包括一电源(6)，以及一用于对该等电容(C0，…，CN)的至少其中之一循环地进行充电以及放电的装置(S1 [n]，12，7，8)，而其系被馈送以该电源(6)。且在此装置中，该循环频率系取决于该电容(C0，…，CN)的数值，该循环频率、或该循环频率的一数量特征系藉由一装置(18)而加以测量。 | ||
| 搜索关键词： | 集成电路 测试 电容 数组 装置 方法 | ||
【主权项】：
1.一种用于在一集成电路中测试一包括复数电容之电容数组(1)的装置，其系包括：-一电源(6)；-一用于对该等电容(Cn)的至少其中之一循环地进行充电以及放电的装置(S1[n]，S3[n]，7，8)，其系被馈送以该电源(6)，且该循环频率系取决于该电容(Cn)的数值；以及-一用于测量该循环频率、或该循环频率所影响之一数量的装置(18)。
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