[发明专利]具有高可布线性的高密度微过孔基板有效
申请号: | 200410074698.8 | 申请日: | 2004-09-13 |
公开(公告)号: | CN1614757A | 公开(公告)日: | 2005-05-11 |
发明(设计)人: | 河崎一茂;I·梅米斯 | 申请(专利权)人: | 国际商业机器公司 |
主分类号: | H01L21/48 | 分类号: | H01L21/48;H05K3/00 |
代理公司: | 北京市中咨律师事务所 | 代理人: | 于静;李峥 |
地址: | 美国*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | 高可布线性的高密度微过孔基板。通过将孔偏移到相邻孔的纤维连接不到的位置,增加了玻璃纤维基芯片载体中镀通孔的密度。延长的条状区域具有约为孔直径的宽度,沿孔的正交列和行延伸,平行于纤维方向,并限定了可能导致孔间短路的纤维的区域。旋转等距孔的常规X-Y网格图形以在相反方向延伸的延长的条状区域之间在一个方向上定位例如交错孔,这样显著增加了沿在每个方向延伸的延长的条状区域的孔间距。在具有充分间隔的延长的条状区域之间定位孔,以补偿在纤维的线性路径中的变化。 | ||
搜索关键词: | 具有 布线 高密度 孔基板 | ||
【主权项】:
1.一种基板,包括:至少一层纤维基材料,具有纤维阵列,所述纤维阵列以基本相互平行的方向延伸;电连接点阵列,沿所述至少一层纤维基材料延伸,所述纤维基材料排列在连接点的平行行中,所述连接点在基本平行于所述纤维的方向延伸,在连接点的每个所述平行行中的连续的连接点之间的距离大于在连接点的所述平行行的相邻行中的连接点的各行之间的距离。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造