[发明专利]T形波导验证异向介质逆斯涅耳折射的方法无效
| 申请号： | 200410067474.4 | 申请日： | 2004-10-22 |
| 公开（公告）号： | CN1601289A | 公开（公告）日： | 2005-03-30 |
| 发明（设计）人： | 陈红胜;冉立新;皇甫江涛;章献民;孔金瓯 | 申请（专利权）人： | 浙江大学 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00 |
| 代理公司： | 杭州求是专利事务所有限公司 | 代理人： | 林怀禹 |
| 地址： | 310027浙*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种T形波导验证异向介质逆斯涅耳折射的方法。将异向介质裁剪成L形状的样品，并在拐角处切成 45°的切面，放入T形波导进行测量，通过对比T形波导两个输出端口测到的功率值，来验证T波导中的异向介质的电磁特性。如果待测异向介质样品具有负的折射率，那么在折射率为－1的频率点，最大输出功率将出现在与入射轴垂直的端口上。其结果与没有放入异向介质的情况相反，由此可以进一步来验证异向介质的负折射率特性。其优点是装置简便，性能稳定。 | ||
| 搜索关键词： | 波导 验证 介质 逆斯涅耳 折射 方法 | ||
【主权项】：
1.一种T形波导验证异向介质逆斯涅耳折射的方法，其特征在于：将异向介质(4)裁剪成L形状的样品，并在拐角处切成45°的切面，放入T形波导(5)进行测量，通过对比T形波导(5)两个输出端口测到的功率值，来验证T波导(5)中的异向介质(4)的电磁特性。
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