[发明专利]利用单极天线阻抗检测物质水分含量的方法无效
| 申请号： | 200410065349.X | 申请日： | 2004-11-29 |
| 公开（公告）号： | CN1614399A | 公开（公告）日： | 2005-05-11 |
| 发明（设计）人： | 汤雷 | 申请（专利权）人： | 汤雷 |
| 主分类号： | G01N22/04 | 分类号： | G01N22/04 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 210029江苏省南京市鼓楼区广*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种利用单极天线阻抗检测物质水分含量的方法。首先对于水分含量已知的物质，将单极天线置入其内部，测量该单极天线的电压驻波比，而后逐渐增加水分含量，测量得到电压驻波比与水分含量的关系曲线，称为标定曲线。再在同样条件下、采用同样的方法对于水分含量未知的物质测量单极天线的电压驻波比值，依据标定曲线即可计算出该物质的水分含量。该方法主要用来检测液体、散粒体等物质的水分含量。 | ||
| 搜索关键词： | 利用 单极 天线 阻抗 检测 物质 水分 含量 方法 | ||
【主权项】：
1.一种利用单极天线阻抗检测物质水分含量的方法，其特征在于该检测方法包括以下步骤：(1)将单极天线置入被测物质内部作为水分检测的传感器；(2)利用水分含量已知的该物质，测量单极天线在其内部时的电压驻波比，得出标定曲线；(3)对水分含量未知的该物质，测量单极天线在其内部时的电压驻波比，依据标定曲线计算出该物质的水分含量。
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