[发明专利]光学读取头取样介面系统无效
| 申请号： | 200410062920.2 | 申请日： | 2004-07-01 |
| 公开（公告）号： | CN1588548A | 公开（公告）日： | 2005-03-02 |
| 发明（设计）人： | 刘智民 | 申请（专利权）人： | 威盛电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G11B21/00 | 分类号： | G11B21/00 |
| 代理公司： | 中原信达知识产权代理有限责任公司 | 代理人： | 文琦;陈肖梅 |
| 地址： | 台湾省台北县*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | 一种光学读取头取样介面系统，包含一光学读取头，输出一读片电压与一烧录电压两者之一。一开关电路，包含一N型金氧半导体(NMOS)，具有一第一源/漏极接收读片电压或烧录电压，一栅极接收一栅极电压，当接收读片电压时，使第一源/漏极与NMOS的一第二源/漏极为导通状态，当接收烧录电压时，使第一源/漏极与第二源/漏极为截止状态。最后由一取样保持电路，连接到NMOS的第二源/漏极，对读片电压进行取样保持。 | ||
| 搜索关键词： | 光学 读取 取样 介面 系统 | ||
【主权项】：
1.一种光学读取头取样介面系统，其特征在于，包含：一光学读取头，输出一读片电压与一烧录电压两者之一；一开关电路，包含一N型金氧半导体(NMOS)，具有一第一源/漏极接收该读片电压或烧录电压，一栅极接收一栅极电压，当接收该读片电压时，使该第一源/漏极与该NMOS的一第二源/漏极为导通状态，当接收该烧录电压时，使该第一源/漏极与该第二源/漏极为截止状态；以及一取样保持电路，连接到该NMOS的该第二源/漏极，对该读片电压进行取样保持。
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