[发明专利]相变温度可调的氧化钒薄膜的制备方法无效
申请号: | 200410060770.1 | 申请日: | 2004-08-25 |
公开(公告)号: | CN1598040A | 公开(公告)日: | 2005-03-23 |
发明(设计)人: | 王双保;周少波;陈四海;陈长虹;易新建 | 申请(专利权)人: | 华中科技大学 |
主分类号: | C23C14/08 | 分类号: | C23C14/08;C23C14/34 |
代理公司: | 华中科技大学专利中心 | 代理人: | 朱仁玲 |
地址: | 430074湖北*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | 本发明提供了一种相变温度可调的氧化钒薄膜的制备方法,包括:在硅片上沉积氧化硅薄膜、氮化硅薄膜;采用离子束反应溅射法沉积氧化钒薄膜,工艺条件为:背底真空4×10-4Pa~3×10-3Pa,氧气压强6×10-4Pa~8×10-3Pa,氩气压强1×10-2Pa~2.3×10-2Pa,离子束流功率8W~60W,衬底温度120℃~450℃,溅射时间10~45分钟,靶材为钒靶;对样片进行退火处理,工艺条件为:气体为氩气或氮气,退火温度250℃~580℃,退火时间20~240分钟,得到相变的氧化钒薄膜。由本发明制备的氧化钒薄膜具有不同的相变温度点,可作成适用于不同温度的开关;保证温度控制操作时的高质量、高速度、高响应率。 | ||
搜索关键词: | 相变 温度 可调 氧化 薄膜 制备 方法 | ||
【主权项】:
1.一种相变温度可调的氧化钒薄膜的制备方法,其特征在于,依次包括如下步骤:(1)在硅片上先沉积一层氧化硅薄膜,再沉积一层氮化硅薄膜;(2)采用离子束反应溅射法,在上述氮化硅薄膜上沉积氧化钒薄膜,离子束反应溅射工艺条件为:背底真空4×10-4Pa~3×10-3Pa,氧气压强6×10-4Pa~8×10-3Pa,氩气压强1×10-2Pa~2.3×10-2Pa,离子束流功率8W~60W,衬底温度120℃~450℃,溅射时间10~45分钟,溅射采用的靶材为钒靶;(3)取出沉积氧化钒薄膜的样片,进行退火处理,退火工艺条件为:气体为氩气或氮气,退火温度250℃~580℃,退火时间20~240分钟,得到相变的氧化钒薄膜。
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