[发明专利]光学信息记录介质再现及/或记录装置无效

专利信息
申请号: 200410056224.0 申请日: 2001-05-24
公开(公告)号: CN1655260A 公开(公告)日: 2005-08-17
发明(设计)人: 大田耕平;荒井则一 申请(专利权)人: 柯尼卡美能达精密光学株式会社
主分类号: G11B7/125 分类号: G11B7/125;G02B3/08;G11B7/135
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 代理人: 李春晖
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 本申请公开了一种光学信息记录介质再现及/或记录装置,其包括用于至少两种光信息记录介质的光学拾取装置,该光学拾取装置包括第一光源;第二光源;光学会聚系统和光检测器。光学会聚系统的光学元件包括一含光轴的第一区域以及与其相邻并位于其外侧的第二区域,且第一区域为一反射面,第二区域为一衍射面。当第一光通量通过第二区域时,其n-级衍射光线的光量大于任何其它级衍射的光量;且当第二光通量通过该光学元件第二区域时,其n-级衍射光线的光量大于任何其它级衍射的光量,其中n为除0外的整数。
搜索关键词: 光学 信息 记录 介质 再现 装置
【主权项】:
1.一种用于进行至少两种光学信息记录介质上信息的再现或记录的光学信息记录介质再现及/或记录装置,包括:一种用于进行至少两种光学信息记录介质上的信息的再现或记录的光学拾取装置,包括:一第一光源,其发射具有第一波长的第一光通量,以进行具有第一透明基板的第一光学信息记录介质上信息的再现或记录;一第二光源,其发射具有第二波长的第二光通量,以进行具有第二透明基板的第二光学信息记录介质上信息的再现或记录;一具有至少一个光学元件的光学会聚系统;以及一光检测器,其接收和检测透过第一光学信息记录介质的第一信息记录表面或由该表面反射的光,或者接收和检测透过第二光学信息记录介质的第二信息记录表面或由该表面反射的光;其中第一波长不同于第二波长,而且第一透明基板的厚度不同于第二透明基板的厚度;其中该光学元件包括一包含光轴的第一区域以及与第一区域相邻并处于第一区域外侧的第二区域,且第一区域为反射面,第二区域为衍射面;其中当第一光通量通过该光学元件的第二区域时,第一光通量的n-级衍射光线的光量大于第一光通量的任何其它级衍射光线的光量;且当第二光通量通过该光学元件的第二区域时,第二光通量的n-级衍射光线的光量大于第二光通量的任何其它级衍射光线的光量,其中n为除0之外的整数;其中该光学会聚系统将已通过第一区域的第一光通量和已通过第二区域的第一光通量的n-级衍射光线通过第一透明基板会聚到第一信息记录表面上,以进行第一光学信息记录介质上信息的再现或记录;并且该光学会聚系统将已通过第一区域的第二光通量通过第二透明基板会聚到第二信息记录表面上,以进行第二光学信息记录介质上信息的再现或记录。
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