[发明专利]选择性蚀刻掺杂碳的低介电常数材料的方法无效
申请号: | 200410055777.4 | 申请日: | 2004-07-30 |
公开(公告)号: | CN1624881A | 公开(公告)日: | 2005-06-08 |
发明(设计)人: | 金洋山;辛南宏;陈一佑;邱杰;叶洋;田方;赵晓烨 | 申请(专利权)人: | 应用材料有限公司 |
主分类号: | H01L21/3065 | 分类号: | H01L21/3065;H01L21/311 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 | 代理人: | 王学强 |
地址: | 美国*** | 国省代码: | 美国;US |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 一种在等离子体蚀刻室中选择性蚀刻基底上的低介电常数材料的等离子体蚀刻制程。此制程利用一蚀刻气体混合物进行蚀刻,此蚀刻气体混合物包括一种多氟的氟碳气体或氢氟碳气体、一种含氮气体以及一种或多种添加气体,添加气体例如是一种多氢的氢氟碳气体、一种惰性气体及/或一种碳-氧气体。以此制程蚀刻低介电常数材料层时,低介电常数材料层和光刻胶掩膜的蚀刻选择比约大于5∶1,低介电常数材料层和阻障/衬层的蚀刻选择比约大于10∶1,且低介电常数材料层的蚀刻率约大于4000埃/分钟。 | ||
搜索关键词: | 选择性 蚀刻 掺杂 介电常数 材料 方法 | ||
【主权项】:
1.一种选择性蚀刻低介电常数材料的等离子体蚀刻制程,其中该低介常数材料的介电常数小于4,该制程包括:将该低介电常数材料层置于一等离子体蚀刻腔室中,并于该等离子体蚀刻腔室通入一蚀刻气体混合物,该蚀刻气体混合物包括一多氟的氟碳气体或氢氟碳气体、一含氮气体以及一多氢的氢氟碳气体;以及在该等离子体蚀刻腔室中维持该蚀刻气体混合物的一等离子体,以蚀刻该低介电常数材料层。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于应用材料有限公司,未经应用材料有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200410055777.4/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:半导体器件的制造方法
- 下一篇:按扣式的磁性纽扣
- 同类专利
- 专利分类
H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造