[发明专利]时序测试方法有效
| 申请号： | 200410055173.X | 申请日： | 2004-08-09 |
| 公开（公告）号： | CN1734280A | 公开（公告）日： | 2006-02-15 |
| 发明（设计）人： | 黄智荣 | 申请（专利权）人： | 华为技术有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/317 | 分类号： | G01R31/317;G01R31/00 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 | 代理人： | 王学强 |
| 地址： | 518129广东省*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 一种时序测试方法，易于确定建立时间和保持时间、简化了操作过程、提高了测试效率，同时扩大了应用范围，包括步骤：(1)选定被测芯片以及被测信号线；(2)通过访问地址空间来驱动被测信号线产生方波信号；(3)捕捉方波信号，测量时序参数。 | ||
| 搜索关键词： | 时序 测试 方法 | ||
【主权项】：
1.一种时序测试方法，用于对芯片的时序参数进行测试，其特征在于，包括步骤：(1)选定被测芯片以及被测信号线；(2)通过访问地址空间来驱动被测信号线产生方波信号；(3)捕捉方波信号，测量时序参数。
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