[发明专利]X射线复折射率中位相因子δ的测定方法

摘要

一种X射线复折射率中位相因子δ的测定方法，其特征在于包括以下三个步骤：①.用一个矩形axb的准平行的X射线束照明待测的位相物体，在位相物体后面，探测器要紧贴在位相物体后面，测量X射线束的光强分布I(x，y)，即位相分布φ(x，y)；②.将φ(x，y)代入公式(30)，即可求得复折射率n(x，y，z)：(见上式)；根据复折射率n(x，y，z)，求得δ：δ＝1－n(x，y，z)。本发明给出了用实验方法求取待测物的位相分布，再从位相分布求取位相因子δ，是一项具有重要意义的原创性的工作。

主权项

1、一种X射线复折射率中位相因子δ的测定方法，其特征在于包括以下三个步骤：①.用一个矩形axb的准平行的X射线束照明待测的位相物体，在位相物体后面，探测器要紧贴在位相物体后面，测量X射线束的光强分布I(x，y)，即位相分布φ(x，y)；②.将φ(x，y)代入公式(30)，即可求得复折射率n(x，y，z)：$\phi (x,y)=\frac{2\pi }{\lambda }\int [n(x,y,z)-1]\mathrm{dz}$ ③.根据复折射率n(x，y，z)，求得δ：δ＝1-n(x，y，z)