[发明专利]主机板的串行高阶硬盘架构接口功能测试装置无效
| 申请号： | 200410051258.0 | 申请日： | 2004-08-25 |
| 公开（公告）号： | CN1740984A | 公开（公告）日： | 2006-03-01 |
| 发明（设计）人： | 欧阳铭修;林鸿年;陈维沅;王太诚 | 申请（专利权）人： | 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司;鸿海精密工业股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/26 | 分类号： | G06F11/26 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 518109广东省深圳市*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 一种主机板的串行高阶硬盘架构(SATA)接口功能测试装置，用于测试主机板的SATA接口功能，所述串行高阶硬盘架构接口功能测试装置包括一具有一定存储容量的闪存芯片，一与所述闪存芯片相连接的将闪存信号转换为IDE信号的侦测芯片，以及一与所述侦测芯片相连接的将IDE信号转换为SATA信号的信号转换芯片，测试时，主机板接收到所述SATA接口功能测试装置发出的SATA信号并根据该信号的讯息识别出所述SATA接口功能测试装置具有一定的存储容量，即完成该主机板SATA接口功能的检测。 | ||
| 搜索关键词： | 主机板 串行 硬盘 架构 接口 功能 测试 装置 | ||
【主权项】：
1.一种主机板的串行高阶硬盘架构接口功能测试装置，用于测试主机板的SATA接口功能，其特征在于：所述主机板的串行高阶硬盘架构接口功能测试装置包括一具有一定存储容量的闪存芯片，一与所述闪存芯片相连接的将闪存信号转换为IDE信号的侦测芯片，一与所述侦测芯片相连接的将IDE信号转换为SATA信号的信号转换芯片。
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