[发明专利]低电压重置功能检测电路无效

专利信息
申请号: 200410051212.9 申请日: 2004-08-19
公开(公告)号: CN1737596A 公开(公告)日: 2006-02-22
发明(设计)人: 谢明志 申请(专利权)人: 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司;鸿海精密工业股份有限公司
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28;G01R19/165;G01R17/22
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 518109广东省深圳市*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 一种低电压重置功能检测电路,该电路包括:一参考电压源;一第一可变电阻,其一端与参考电压源相连;一第二可变电阻,其一端与第一可变电阻的另一端相连接,另一端接地;及一跳线,其具有四个接脚,其中第一接脚连于第一可变电阻与第二可变电阻之间,第三接脚接地,第二接脚与第四接脚共同相连于被测电路的低电压重置接脚。该低电压重置功能检测电路结构简单,操作方便,可节省成本。
搜索关键词: 电压 重置 功能 检测 电路
【主权项】:
1.一种低电压重置功能检测电路,用于检测被测电路的低电压重置功能是否完好,其特征在于该检测电路包括:一参考电压源;一第一可变电阻,其一端与参考电压源相连;一第二可变电阻,其一端与第一可变电阻的另一端相连接,另一端接地;及一跳线,其具有四个接脚,其中第一接脚连接于第一可变电阻与第二可变电阻之间,第三接脚接地,第二接脚与第四接脚相连。
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