[发明专利]旋转检测器无效
| 申请号： | 200410048940.4 | 申请日： | 2004-06-11 |
| 公开（公告）号： | CN1573299A | 公开（公告）日： | 2005-02-02 |
| 发明（设计）人： | 大西穣;中野光章 | 申请（专利权）人： | 夏普株式会社 |
| 主分类号： | G01D5/26 | 分类号： | G01D5/26;G01B11/26 |
| 代理公司： | 上海专利商标事务所 | 代理人： | 李家麟 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 一种旋转检测器具有可旋转地保持在旋转轴上的透光型旋转盘1，在旋转盘1的表面上沿其外部边缘排列的多个齿1b…1b，以及稍许远离旋转盘1的下表面并与齿1b…1b相对的第一和第二反射型光耦合器2、3。光从第一和第二反射型光耦合器2、3发出并照射到旋转盘1的齿1b…1b上。入射光由齿1b…1b反射，并照射到第一和第二反射型光耦合器2、3上。该旋转检测器根据第一和第二反射型光耦合器2、3的接收器光输出来检测旋转盘1的旋转角度、旋转速度和旋转方向。 | ||
| 搜索关键词： | 旋转 检测器 | ||
【主权项】：
1.一种旋转检测器，其特征在于，包括可旋转地保持在旋转轴上的旋转盘、在旋转盘的表面上沿其外部边缘排列的多个齿、以及与所述齿相对的至少一个或多个反射型光耦合器。
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