[发明专利]半导体存储装置有效

专利信息
申请号: 200410048571.9 申请日: 2004-06-08
公开(公告)号: CN1574083A 公开(公告)日: 2005-02-02
发明(设计)人: 林惠美;大田清人;山崎裕之 申请(专利权)人: 松下电器产业株式会社
主分类号: G11C11/407 分类号: G11C11/407;G11C29/00
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 代理人: 汪惠民
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 一种半导体存储装置,既控制由于冗余元件引起的电路面积增大,又可得到救助效率优良的冗余救助方法。在半导体存储装置中,设置了具有各自交错的复数个字线及复数个位线对(BL,/BL)、设置在各字线和位线对的每一个交叉部分上的复数个存储单元(17)、并且与各个位线对对应设置的具有复数个读取放大器(18)的复数个存储块(11)。设置了在各存储块(11)上介于开关晶体管(16)连接的复数个共通数据总线对DB,/DB,对各存储块11介于各共通数据总线对进行读出操作及写入操作的读写放大器14,设置了各共同数据总线对介于各自开关晶体管电连接的SRAM元件(19)。
搜索关键词: 半导体 存储 装置
【主权项】:
1.一种半导体存储装置,其特征为:包括:具有各自互相交错的复数个字线及复数个位线对、设置在上述各字线和上述各位线对的每一个交叉部分上的复数个存储单元、以及与上述各个位线对所对应设置的具有复数个读取放大器的复数个存储块,和分别介于选择开关与上述各存储块电连接的复数个共同数据总线,以及分别介于选择开关与上述各共同数据总线电连接的门闩电路。
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