[发明专利]抗辐射导电光学防护膜无效
| 申请号： | 200410043737.8 | 申请日： | 2004-07-22 |
| 公开（公告）号： | CN1598619A | 公开（公告）日： | 2005-03-23 |
| 发明（设计）人： | 张丽新;何世禹;杨德庄;魏强;赵丹 | 申请（专利权）人： | 哈尔滨工业大学 |
| 主分类号： | G02B1/10 | 分类号： | G02B1/10;G02B1/00 |
| 代理公司： | 哈尔滨市松花江专利商标事务所 | 代理人： | 张伟 |
| 地址： | 150001黑龙江*** | 国省代码： | 黑龙江;23 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 抗辐射导电光学防护膜，它涉及一种在光学器件表面使用的防护膜。现有防护膜在长期接受空间辐射环境作用后，光谱透过率明显下降，且当航天器遇磁层亚暴环境时，表面被充电，当放电脉冲耦合进入电子系统时造成航天器故障。本发明的各成分按重量份数计：无水乙醇1～4份，乙酰丙酮2～6份，甲酰胺0.02～1份，盐酸0.01～3份，In(NO3)30.0001～0.001份，SnCl40.00001～0.0004份，Ce(NO3)30.0002～0.004份，LaCl30.0003～0.005份。本发明利用Ce、La、Sn、In元素特性制备的多元素氧化物复合膜，具有高的导电性能、抗辐射性能和光学性能稳定性，在可见及近红外区的光谱透过率达到92％以上。 | ||
| 搜索关键词： | 辐射 导电 光学 防护 | ||
【主权项】：
1.一种抗辐射导电光学防护膜，它的原料成分包括无水乙醇、乙酰丙酮、甲酰胺和盐酸，其特征在于它的成分中还包括In(NO3)3、SnCl4、Ce(NO3)3和LaCl3，以上各成分按重量份数计：无水乙醇1～4份，乙酰丙酮2～6份，甲酰胺0.02～1份，盐酸0.01～3份，In(NO3)30.0001～0.001份，SnCl40.00001～0.0004份，Ce(NO3)30.0002～0.004份，LaCl30.0003～0.005份。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于哈尔滨工业大学，未经哈尔滨工业大学许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/200410043737.8/，转载请声明来源钻瓜专利网。
