[发明专利]内电路检测方法及其运用的检测装置无效
| 申请号： | 200410042818.6 | 申请日： | 2004-05-26 |
| 公开（公告）号： | CN1704762A | 公开（公告）日： | 2005-12-07 |
| 发明（设计）人： | 张铭元 | 申请（专利权）人： | 名威科技实业有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京三友知识产权代理有限公司 | 代理人： | 马娅佳 |
| 地址： | 台湾省*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | 本发明为一种内电路检测方法及其运用的检测装置，主要是令检测平台以选定排列的方式将检测装置架构成一检测面，该检测装置是将晶片以集成封装技术整合连结有解码器电路、电路开关与金属测试接点，使金属测试接点采用高密度的排设方式布设于晶片顶端，若此，使被测物与检测平台相触接检测内电路时，被测物上的任一电路接点皆有与其对应触接的若干测试接点，令本发明可涵盖适用任一具有电路结构的被测物检测内电路。 | ||
| 搜索关键词： | 电路 检测 方法 及其 运用 装置 | ||
【主权项】：
1、一种内电路检测方法，其特征在于，其主要是令检测平台将多个具有高密度测试接点的检测装置选定排列成一检测面，使被测物与检测平台触接检测内电路时，被测物上的任一电路接点皆有与其对应触接的若干金属测试接点，令每一电路接点由计算机设备控制检测装置上的金属测试接点进行信号导通而逐一检测。
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