[发明专利]带分段光耦合器的计算机X射线断层造影检测器及制造方法无效
申请号: | 200410039944.6 | 申请日: | 2004-03-12 |
公开(公告)号: | CN1530076A | 公开(公告)日: | 2004-09-22 |
发明(设计)人: | D·M·霍夫曼;M·F·霍格 | 申请(专利权)人: | GE医疗系统环球技术有限公司 |
主分类号: | A61B6/03 | 分类号: | A61B6/03;G01N23/00 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人: | 杨凯;罗朋 |
地址: | 美国威*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | 本发明针对用于CT成像系统(10)的CT检测器(20),它在光电二极管阵列(52)和闪烁器阵列(56)之间加入分段光耦合器。分段光耦合器还用作光准直仪,提高光电二极管阵列(52)的光收集效率。分段光耦合器由共同形成多个开放单元(90)的一系列反射元件(88)来定义。开放单元(90)形成光传输腔并有助于光从闪烁器(57)到光电二极管(60)的准直。腔(90)可采用光学环氧树脂来填充,以便密封到光电二极管阵列(52)上。 | ||
搜索关键词: | 分段 耦合器 计算机 射线 断层 造影 检测器 制造 方法 | ||
【主权项】:
1.一种CT检测器(20),包括:排列成阵列(82)的多个闪烁器(57),它们接收x射线(16)并响应对x射线的接收而输出光(85);排列成阵列(52)的多个光检测元件(60),它们响应从所述多个闪烁器(57)检测的光而输出电信号;以及非连续式光耦合器,用于把所述多个闪烁器(57)固定到所述多个光检测元件(60)上。
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