[发明专利]用于检测从全息介质中重现的全息数据的装置和方法无效
| 申请号： | 200410031813.3 | 申请日： | 2004-03-30 |
| 公开（公告）号： | CN1534406A | 公开（公告）日： | 2004-10-06 |
| 发明（设计）人： | 姜秉福 | 申请（专利权）人： | 株式会社大宇电子 |
| 主分类号： | G03H1/02 | 分类号： | G03H1/02;G03H1/22;G11B7/00 |
| 代理公司： | 永新专利商标代理有限公司 | 代理人： | 王英 |
| 地址： | 韩国*** | 国省代码： | 韩国;KR |
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| 摘要： | 在一种用于检测从全息介质中重现的全息数据的装置中，全息介质中含有干涉图样，并且当参考光束的第一部分被全息介质内的该干涉图样衍射时，可重现该全息数据。一个透射光束检测器检测透射光束的实时光强，该透射光束是参考光束的第二部分，其中透射光束不发生衍射以重现该全息数据，而是直接穿过全息介质。接着，一个CCD(电荷耦合器件)控制器根据检测到的光强生成一个驱动信号。此后，一个CCD响应该驱动信号以检测该全息数据。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 检测 全息 介质 重现 数据 装置 方法 | ||
【主权项】：
1、一种用于检测从全息介质中重现的全息数据的装置，其中全息介质中含有干涉图样，并且当参考光束的第一部分被全息介质内的干涉图样衍射时，可重现该全息数据，该装置包括：一个透射光束检测器，用于检测透射光束的实时(temporal)光强，该透射光束是参考光束的第二部分，其中透射光束不发生衍射以重现该全息数据，而是直接穿过全息介质；一个CCD(电荷耦合器件)控制器，用于根据检测到的光强生成驱动信号；和一个CCD，用于响应驱动信号以检测该全息数据。
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