[发明专利]一种实现芯片复位的方法和芯片无效
| 申请号： | 200410031002.3 | 申请日： | 2004-04-05 |
| 公开（公告）号： | CN1681105A | 公开（公告）日： | 2005-10-12 |
| 发明（设计）人： | 潘剑锋;蒋麟军;陈祺;赵俊峰;雷春;徐清强;秦旭 | 申请（专利权）人： | 华为技术有限公司 |
| 主分类号： | H01L21/82 | 分类号： | H01L21/82;H01L21/00;G06F17/50 |
| 代理公司： | 北京德琦知识产权代理有限公司 | 代理人： | 宋志强;王琦 |
| 地址： | 518129广东省*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种实现芯片复位的方法，该方法通过对外部时钟进行计数的计数值与预先设置的复位结束值相比较产生自复位信号，控制芯片的复位。本发明还公开了一种芯片，该芯片包括一个对外部时钟进行计数来输出自复位信号至芯片功能电路的自复位单元，自复位单元包括用于对外部时钟计数的复位计数器和比较计数值与复位结束值并产生自复位信号的比较电路。该芯片可以在上电时自复位，而无需外部的专用复位芯片和复位控制电路输入复位信号。该方法不仅简便易行，由于不必设置专用复位芯片，大大节省了成本。此外，由于芯片内部自复位信号还可以输出至芯片外部，实现对整个电路系统的复位控制，所以，该方法和芯片具有广阔的应用空间。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 实现 芯片 复位 方法 | ||
【主权项】：
1、一种实现芯片复位的方法，其特征在于，包括如下步骤：A、预先根据芯片复位所需的时钟周期设置复位结束值；B、芯片上电时，对外部时钟进行计数；C、判断时钟计数值是否与预先设置的复位结束值相等，如果是，则自复位信号无效，芯片复位结束；否则，自复位信号有效，芯片继续对外部时钟进行计数，返回执行步骤C。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件；其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置；专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理；集成电路器件或其特殊部件的制造
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H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置；专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
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