[发明专利]一种厚/宽度非接触测量方法及系统无效
申请号: | 200410026785.6 | 申请日: | 2004-04-07 |
公开(公告)号: | CN1563884A | 公开(公告)日: | 2005-01-12 |
发明(设计)人: | 马国欣 | 申请(专利权)人: | 华南理工大学 |
主分类号: | G01B11/02 | 分类号: | G01B11/02;G01B11/26 |
代理公司: | 广州市华学知识产权代理有限公司 | 代理人: | 李卫东 |
地址: | 510640广东*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本发明是一种厚/宽度非接触测量方法及系统,该方法是将准直光源发出的光束经非对称扫描转镜形成扫描光束,扫描光束被待测工件反/散射后,由接收物镜汇聚至光电接收元件,通过测量反/散射光在待测工件上的持续时间,通过特定测量方程得到工件厚/宽度。该系统是由准直光源、非对称扫描转镜、接收物镜、光电接收器依次相互连接组成,光电接收器还通过信号线与计算机相连接。本发明使用子非对称的转镜扫描,无扫描物镜,制造简单,系统误差可通过计算机实现有效补偿,系统工作稳定性好,安装调试及维护方便,成本低,还可方便地实现便携结构。 | ||
搜索关键词: | 一种 宽度 接触 测量方法 系统 | ||
【主权项】:
1.一种厚/宽度非接触测量方法,其特征是,将准直光源发出的光束通过非对称扫描转镜形成扫描光束,扫描光束在待测工件截面反/散射后,由接收物镜汇聚至光电接收元件,通过测量反/散射光在待测工件上的持续时间,按照下式测量得到工件厚/宽度H:H=2·h·tan(θ2/2)·tan(θ3/2)/(tan(θ3/2)-tan(θ2/2))其中,h为非对称扫描转镜两反射面到旋转轴中心距离之差;θ2、θ3分别为非对称扫描转镜两反射面反射点对待测工件截面的张角。
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