[发明专利]PCI测试卡及其测试方法无效
| 申请号： | 200410025337.4 | 申请日： | 2004-06-22 |
| 公开（公告）号： | CN1713155A | 公开（公告）日： | 2005-12-28 |
| 发明（设计）人： | 杜春艳;张林;王玉杰;周传国 | 申请（专利权）人： | 上海环达计算机科技有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/22 | 分类号： | G06F11/22 |
| 代理公司： | 上海翼胜专利事务所 | 代理人： | 翟羽 |
| 地址： | 200040上*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 一种PCI测试卡，包括：信号发生器、延时门阵列、控制电路和显示单元，其中信号发生器产生测试所需的信号，延时门阵列对信号进行不同门延迟数的延时后输出，显示单元显示当前的信号所经的门延迟的个数，控制电路控制信号的产生以及所经门延迟的个数。本发明结构简单，能够直接测出建立时间和保持时间容限，且测试精度和测试效率较高。 | ||
| 搜索关键词： | pci 测试 及其 方法 | ||
【主权项】：
1、一种PCI测试卡，其特征在于它包括：信号发生器、延时门阵列、控制电路和显示单元，其中信号发生器产生测试所需的信号，延时门阵列包括复数个门延迟，其中单个门延迟对信号滞后一延迟时间，显示单元显示当前的信号所经的门延迟的个数，控制电路控制信号的产生以及所经门延迟的个数。
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