[发明专利]集成电路引线框架用铜合金材料及其制造工艺无效
| 申请号: | 200410016268.0 | 申请日: | 2004-02-13 |
| 公开(公告)号: | CN1654690A | 公开(公告)日: | 2005-08-17 |
| 发明(设计)人: | 方守谊 | 申请(专利权)人: | 上海金泰铜业有限公司 |
| 主分类号: | C22C9/00 | 分类号: | C22C9/00;H01L21/58;H01L23/00 |
| 代理公司: | 上海新天专利代理有限公司 | 代理人: | 王敏杰 |
| 地址: | 20094*** | 国省代码: | 上海;31 |
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| 摘要: | 一种集成电路引线框架用铜合金材料,其化学成分是,Cu:≥99.8%;Fe:0.05-0.15%;P:0.015-0.05%。制造工艺流程为:原料检验→称重配料→入炉熔化→转保温炉→取样分析→半连续铸造→铸锭切头尾→铸锭质量检验→步进炉加热→热轧→带坯铣面→带坯质量检验→冷粗轧→裁边→钟罩炉退火→冷中轧(钟罩炉退火→冷中轧)→气垫炉中间退火→十二辊精轧→气垫炉成品清洗(脱脂、退火、酸洗、清洗、钝化、烘干)→拉弯矫直→成品检验→包装入库。解决了现有的集成电路引线框架用纯铜材料其抗拉强度不能达到390MP以上,拉伸率也不高的技术问题,提高了合金强度和材料的耐热性能。 | ||
| 搜索关键词: | 集成电路 引线 框架 铜合金 材料 及其 制造 工艺 | ||
【主权项】:
1、一种集成电路引线框架用铜合金材料,其特征是其化学成分如下:Cu:≥99.8%;Fe:0.05-0.15%;P:0.015-0.05%。
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