[发明专利]验证测试用ROM的方法有效
| 申请号： | 200410015919.4 | 申请日： | 2004-01-17 |
| 公开（公告）号： | CN1641795A | 公开（公告）日： | 2005-07-20 |
| 发明（设计）人： | 蒋英 | 申请（专利权）人： | 上海华虹集成电路有限责任公司 |
| 主分类号： | G11C29/00 | 分类号： | G11C29/00;H01L21/66 |
| 代理公司： | 上海浦一知识产权代理有限公司 | 代理人： | 丁纪铁 |
| 地址： | 201203上海*** | 国省代码： | 上海;31 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了一种验证测试用ROM的方法，利用本方法可提高验证测试用ROM的速度和正确性。在测试用ROM中预先分配四个存储单元，用来存储测试用ROM的和的高位和低位以及高位和低位的补码，并令存储高位及高位的补码的两个存储单元的内容以及存储低位及低位的补码的两个存储单元的内容互补；编译验证程序并对其二进制代码求出测试用ROM的和；接着分别将其和的高位和低位存储于测试用ROM所分配的存储和的高位和低位的存储单元中，并分别将其补码存储于测试用ROM中所分配的存储和的高位和低位的补码的存储单元中；最后通过编译修改后的程序并对其二进制代码求和，利用求出的测试用ROM的和的正确值来判断测试用ROM的和是否改变，从而验证测试用ROM的内容是否正确。 | ||
| 搜索关键词： | 验证 测试 rom 方法 | ||
【主权项】：
1、一种验证测试用ROM的方法，其特征在于：首先，在测试用ROM中预先分配四个存储单元，分别用来存储测试用ROM的和的高位和低位以及高位和低位的补码，在验证程序初次编译之前，令存储高位及高位的补码的两个存储单元的内容互补，存储低位及低位的补码的两个存储单元的内容互补；之后，编译该验证程序并对其二进制代码求出测试用ROM的和；接着分别将其和的高位和低位存储于测试用ROM之中所分配的存储和的高位和低位的存储单元中，并分别将其补码存储于测试用ROM中预先分配的存储和的高位和低位的补码的存储单元中；最后，通过编译修改后的程序并对其二进制代码求和，利用求出的测试用ROM的和的正确值来判断测试用ROM的和是否改变，从而验证测试用ROM的内容是否正确。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海华虹集成电路有限责任公司，未经上海华虹集成电路有限责任公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/200410015919.4/，转载请声明来源钻瓜专利网。
