[发明专利]密集波分复用系统中光信噪比测量方法及其装置有效

专利信息
申请号: 200410013018.1 申请日: 2004-04-12
公开(公告)号: CN1564501A 公开(公告)日: 2005-01-12
发明(设计)人: 陈晓虎;张晓蓉;胡强高;何俊;彭定敏 申请(专利权)人: 武汉光迅科技有限责任公司
主分类号: H04J14/02 分类号: H04J14/02;H04B10/08
代理公司: 武汉宇晨专利事务所 代理人: 黄瑞棠
地址: 430074湖北*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 发明公开了一种密集波分复用系统中光信噪比测量方法及其装置,涉及一种光性能检测模块,尤其涉及光信噪比的测量。本发明由于使信号和噪声分别测量,有效地解决了噪声测量过程中信号功率对噪声功率的影响问题,从而能够准确测量系统中的光信噪比。本装置由信号输入端口(1)、光路切换器(2)、周期性滤波器(2.1)、光学系统(3)、数据处理系统(4)组成;信号输入端口(1)、光路切换器(2)、光学系统(3)、数据处理系统(4)依次连接,周期性滤波器(2.1)安放于光路切换器(2)内的状态2的位置。本发明能够准确测量较大的信噪比,不需要对测试数据进行复杂的数据处理,大大降低对光学系统和电路系统的质量要求。
搜索关键词: 密集 波分复用 系统 中光信噪 测量方法 及其 装置
【主权项】:
1、一种密集波分复用系统中光信噪比测量装置,包括光学系统(3)、数据处理系统(4):其特征在于:由信号输入端口(1)、光路切换器(2)、周期性滤波器(2.1)、光学系统(3)、数据处理系统(4)组成;信号输入端口(1)、光路切换器(2)、光学系统(3)、数据处理系统(4)依次连接,周期性滤波器(2.1)安放于光路切换器(2)内的状态2的位置。
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