[发明专利]一种参与性介质遮蔽高温表面的辐射测温方法无效
| 申请号： | 200410009174.0 | 申请日： | 2004-06-04 |
| 公开（公告）号： | CN1584521A | 公开（公告）日： | 2005-02-23 |
| 发明（设计）人： | 张欣欣;刘玉英;于帆;黄志伟;乐恺 | 申请（专利权）人： | 北京科技大学 |
| 主分类号： | G01J5/00 | 分类号： | G01J5/00;G01J5/06 |
| 代理公司： | 北京科大华谊专利代理事务所 | 代理人： | 刘月娥 |
| 地址： | 100083*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种修正参与性介质影响的辐射测温方法。当受到参与性介质影响时，通过建立辐射测温正、反问题模型及辐射测温反问题迭代算法，借助介质辐射特征的相关辅助信息，实现对辐射测温仪在参与性介质影响下的实际测量温度值进行反演修正，得到被测表面温度。其特征在于：设计参与性介质影响下辐射测温问题的物理模型，建立相应的数学模型及数值求解方法，并针对测温模型定义辐射测温正、反问题，最后开发出由测温仪实测温度值反演被测表面真实值的预测－校正迭代算法。其优点在于：当被测表面受到参与性介质干扰时，可以实现对辐射测温仪的实际测量值进行反演修正，得到更为准确的被测表面温度。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 参与 介质 遮蔽 高温 表面 辐射 测温 方法 | ||
【主权项】：
1、一种参与性介质遮蔽高温表面的辐射测温方法，在受到参与性介质遮蔽时用辐射测温方法准确测定高温物体表面温度的方法，考虑参与性介质的辐射换热对辐射测温仪的影响，通过建立辐射测温正、反问题数学模型及辐射测温反问题迭代算法，借助参与性介质辐射特征的辅助信息，实现对参与性介质影响所造成的测量温度偏差的修正，得到更为准确的被测表面温度；其特征在于：首先设计参与性介质影响下辐射测温问题的物理模型，然后建立相应的数学模型及数值求解方法，并针对该测温模型定义辐射测温正、反问题，最后给出由测温仪测量值反演被测表面真实值的预测-校正迭代算法。
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