[发明专利]薄膜晶体管阵列的制造方法与装置有效

专利信息
申请号: 200410007831.8 申请日: 2004-03-04
公开(公告)号: CN1664984A 公开(公告)日: 2005-09-07
发明(设计)人: 陈志宏;林国隆;陈志芳 申请(专利权)人: 统宝光电股份有限公司
主分类号: H01L21/00 分类号: H01L21/00;G02F1/136
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 代理人: 周长兴
地址: 台湾省新竹科学工*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 一种薄膜晶体管阵列的制造方法与装置,适用于薄膜晶体管阵列制程中形成导体层的步骤,以消除静电破坏的效应,此方法采用两阶段式的光罩制程。首先利用第一阶段光罩制程,将形成于一基板上的导体层图案化,以形成一第一图案,这个第一图案包括数个独立电路以及连接前述各个独立电路的连结部位,以使同一层导体层连接成等电位,并可于基板边缘处制作尖端放电机制。之后,等到下一层导体层建构前,再利用第二阶段光罩制程,将第一图案连结部位全部去除,以形成一第二图案,而第二图案中仅保留独立电路。
搜索关键词: 薄膜晶体管 阵列 制造 方法 装置
【主权项】:
1.一种薄膜晶体管阵列的制造方法,包括:于一基板上形成一第一导体层;图案化该第一导体层,以形成复数个第一独立电路以及连接该些第一独立电路的复数个第一连结部位;去除该第一导体层中的该些第一连结部位;于该第一导体层上形成一第一绝缘层;于该第一绝缘层上形成一第二导体层;于该基板上形成一第二绝缘层,该第二绝缘层具有复数个接触窗口;以及于该第二绝缘层上形成复数个画素电极,以使得该些画素电极由该些接触窗口与该第二导体层电性相连。
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