[发明专利]光纪录介质和缺陷管理方法有效

专利信息
申请号: 200410007499.5 申请日: 1999-07-15
公开(公告)号: CN1529316A 公开(公告)日: 2004-09-15
发明(设计)人: 李明九;朴容澈;郑圭和;申种仁 申请(专利权)人: LG电子株式会社
主分类号: G11B20/18 分类号: G11B20/18;G11B20/12;G11B20/10;G11B7/00;G11B20/00
代理公司: 中原信达知识产权代理有限责任公司 代理人: 陆弋;钟强
地址: 韩国*** 国省代码: 韩国;KR
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摘要: 发明涉及一种用于把数据记录到光记录介质上或从中读出数据的装置,所述装置包含:光拾取器,用于把数据写入光记录介质或从中读出数据;以及控制器,用于控制数据的记录或读出操作,以根据待写入或读出的数据是实时数据还是非实时数据和/或是否剩余有备用区的替代块,用光记录介质的备用区的替代块替代缺陷块或不用光记录介质的替代块替代缺陷块。
搜索关键词: 纪录 介质 缺陷 管理 方法
【主权项】:
1.一种用于把数据记录到光记录介质上或从中读出数据的装置,所述装置包含:光拾取器,用于把数据写入光记录介质或从中读出数据;以及控制器,用于控制数据的记录或读出操作,以根据待写入或读出的数据是实时数据还是非实时数据和/或是否剩余有备用区的替代块,用光记录介质的备用区的替代块替代缺陷块或不用光记录介质的替代块替代缺陷块。
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