[发明专利]分离方法和装置有效

专利信息
申请号: 200410005928.5 申请日: 2004-02-24
公开(公告)号: CN1530178A 公开(公告)日: 2004-09-22
发明(设计)人: 河野元美 申请(专利权)人: 亚科株式会社
主分类号: B07B7/00 分类号: B07B7/00;B07B4/00
代理公司: 中原信达知识产权代理有限责任公司 代理人: 谷惠敏;关兆辉
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明提供从原料颗粒等中分选回收较轻颗粒的方法以及装置。使用从上开始顺次设有排气口、圆筒状的一次分离空间、圆锥状的二次分离空间、运出口的长形筒,从原料颗粒中分离较轻颗粒。一次分离步骤,使包含较轻颗粒的原料颗粒与空气一起沿圆筒内壁表面回旋上升,原料颗粒和一部分较轻的颗粒借助于与壁面的摩擦阻力而滞留在一定区域内,然后落下到下方的圆锥部内。二次分离步骤,对于圆锥部中的原料颗粒,吹出二次空气,将较轻物质吹上到圆筒空间内。运出步骤,从圆锥部下方连续地取出原料颗粒。还可以追加吹出三次空气的三次分离步骤。
搜索关键词: 分离 方法 装置
【主权项】:
1.一种从原料颗粒中分离较轻颗粒的方法,使用长形筒,从上开始顺次设有排气口、圆筒状的一次分离空间、圆锥状的二次分离空间、运出口,该方法包括以下步骤:一次分离步骤,将包含作为分离对象的较轻颗粒的原料颗粒与空气一起,沿上述一次分离空间的圆筒内壁表面向回旋上升的方向导入上述一次分离空间内,借助于管内的上升气流,混杂在上述原料颗粒中的较轻物质的大部分被导向上述排气口,原料颗粒和一部分较轻的颗粒借助于由于回旋而产生的与壁面的摩擦阻力而滞留在一定区域内,然后下落到二次分离空间内;二次分离步骤,对于在上述一次分离步骤中下落到下方的上述二次分离空间的圆锥部中的原料颗粒,在上述二次分离空间的下部从狭缝向中心吹入二次空气,将原料颗粒中的较轻物质上吹到上述一次分离空间内;以及运出步骤,从上述圆锥部下方的运出口取出除去了较轻颗粒的原料颗粒。
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