[发明专利]半导体装置及其制造方法无效
申请号: | 200410005505.3 | 申请日: | 2004-02-12 |
公开(公告)号: | CN1521855A | 公开(公告)日: | 2004-08-18 |
发明(设计)人: | 新居英明 | 申请(专利权)人: | 株式会社东芝 |
主分类号: | H01L27/12 | 分类号: | H01L27/12;H01L29/786;H01L21/84;H01L21/336 |
代理公司: | 上海专利商标事务所 | 代理人: | 包于俊 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明提供能够防止在栅极电极的弯曲部分连半导体层也被刻蚀的半导体装置。半导体装置包含支持基板3、以及设置在支持基板内的将元件区隔离的元件隔离绝缘膜4。在元件区内的支持基板上设置第1栅极绝缘膜11、以及具有比第1栅极绝缘膜要厚的厚度的第2栅极绝缘膜12。栅极电极G具有在第1栅极绝缘膜上沿第1方向延伸的第1部分Ga、以及从第1部分起沿与第1方向不同的第2方向沿伸的第2部分Gb。形成第1部分与第2部分的内角的部分设置在第2栅极绝缘膜上。源极/漏极扩散层S与D形成在支持基板内,将栅极电极的第1部分的下方沟道区夹在当中。 | ||
搜索关键词: | 半导体 装置 及其 制造 方法 | ||
【主权项】:
1.一种半导体装置,其特征在于,包括支持基板,设置在所述基板内的将元件区隔离的元件隔离绝缘膜,设置在所述元件区内的所述支持基板上的第1栅极绝缘膜,设置在所述元件区内的所述支持基板上的、具有比所述第1栅极绝缘膜要厚的膜厚的第2栅极绝缘膜,形成具有在所述第1栅极绝缘膜上沿第1方向延伸的第1部分及所述第1部分起沿与所述第1方向不同的第2方向延伸的第2部分、而且使形成所述第1部分与所述第2部分的内角的部分设置在所述第2栅极绝缘膜上的栅极电极,以及在所述支持基板内形成将所述栅极的所述第1部分下方的沟道区夹在当中的源极/漏极扩散层。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于株式会社东芝,未经株式会社东芝许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200410005505.3/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 同类专利
- 专利分类
H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的